多年專注于可靠性測(cè)試設(shè)備
企業(yè)已通過(guò)質(zhì)量管理體系認(rèn)證和CE認(rèn)證
現(xiàn)貨供應(yīng)|即日響應(yīng)|長(zhǎng)期質(zhì)保|長(zhǎng)期維護(hù)
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多年專注于可靠性測(cè)試設(shè)備
企業(yè)已通過(guò)質(zhì)量管理體系認(rèn)證和CE認(rèn)證
?性能指標(biāo)符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N： 溫度變化；
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B： 高溫。
4.1.14 設(shè)備需支持 SECS/GEM 協(xié)議
4.1.15 MTBA (平均故障間隔周期)
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?高低溫PCIE老化柜，恒溫PCIE老化箱，高低溫PCIE老化箱，高低溫PCIE ?
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掃一掃關(guān)注一品
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